矿相学复习资料

三堂网 > | 发布时间:2018-11-07T09:55:28 更新时间:2024-11-11T00:21:38
【矿相显微镜】

矿相显微镜亦称反射偏光显微镜或矿石显微镜,它是矿相学研究工作的基本工具。近几十年,在矿相显微镜的研制上做了多方面的改进,其光学性能已有了很大的提高。从而使矿相学工作者能精确地观测到更多的光学性质。同时为了定量测试不透明矿物的物理、光学性质而设计的几种光学仪器和显微镜附件亦已被广泛应用,因此为矿相学的研究创造了有利条件。

矿相显微镜实际上是由一台偏光显微镜加一套“垂直照明系统”组成(图1-1)。旧式矿相显微镜的“垂直照明器”多半固定在显微镜筒的下端,而新型的则能任意装卸。装上垂直照明器后可作反射光观察用,卸下“垂直照明器”,装上物镜更换器和透光观测用物镜,则可作透射光下观察之用。

一、矿相显微镜的结构及附件

矿相显微镜的镜体与一般偏光显微镜(岩石显微镜)基本相同。下面将矿相显微镜的主要部件作一简要介绍。

(一)垂直照明器

垂直照明器附以光源即构成完备的垂直照明系统。该系统和部件如下图(图1-1)。

图1-1 矿相显微镜垂直照明器部件及系统光路示意图

垂直照明器部件:1—光源;2—聚光透镜;3—孔径光栏;4—视野光栏;5—起偏镜;6—视野透镜(校正透镜);7—反射器;8—物镜的透镜系统;3′—孔径光栏的像;4′—视野光栏的像;9—光片

1.孔径光栏

孔径光栏也称孔径光圈,是位于光源透镜之后可任意开缩的虹膜式光圈,它用于控制入射光束直径大小、影像反差强弱及物镜的有效孔径。当将其缩小时,入射光束直径相应变小,故视域亮度也随之减弱,但可形成较为垂直的入射光,且由此使有害的杂乱光线减少,从而增高影像反差使之清晰,然而物镜有效孔径减小,使分辨率会因此而降低。所以孔径光栏应调节适宜,其调节法详见后文。

2.起偏镜

起偏镜也称前偏光镜,多用偏振片制成,其作用是使入射光成直线(平面)偏光。应能自由旋转至少90°为宜,并能锁紧更佳。观测矿石光片时,应使其振动方向为东西向(水平振动),因为这样经反射器向下反射的光强比其成南北向位置时为大。而新型显微镜的前偏光镜大多固定成东西向。

3.视野光栏

视野光栏也称视域(野、场)光圈,它一般也是由活动叶片构成的虹膜式光圈,其功能是用以控制视野(域)大小,挡去有害杂乱反射光射入视野,而便于提高所观测矿物影像的清晰程度,以利对其精细研究。一般观察时,可将此光圈调至与视野边缘重合即可,不宜再大,以免更多的杂乱光线投进视域中。

位于视野光栏后方,通常装置一个由二、三片透镜组合而成的视野透镜(又称校正透镜或消色差透镜),它可前后移动,但也有固定不变的,其作用是将视野光栏焦距准确,从而使视野中的影像清晰。

4.反射器

反射器是垂直照明器中最主要的部件,其作用是将水平入射光垂直向下反射。反射器最常用的有玻璃片和棱镜两类,另有一种是新型的史密斯反射器。下面将三种反射器加以介绍:

图1-2 玻璃片反射器(a)和棱镜反射器(b)及其反光原理示意图

1—灯泡;2—聚光透镜;3—孔径光栏;4—起偏镜;5—视野光栏;6—视野透镜;7—反射器;8—物镜;9—自由工作距离;10—光片

(1)玻璃片反射器 该反射器是在垂直照明器内装置一个以45°倾斜的玻璃片而成(图1-2a)。玻璃片的反射面通常镀有一层高折射率物质(如硫化锌或氧化铋等)透明薄膜,以便增高其反射能力。同时为了增强光线透过它而向上的透射能力,又在玻璃片的上表面镀有低折射率物质(如氟化镁)的增透膜。由图1-2a可看出,入射光线射至反射玻璃片上,一部分光线透过玻璃片而损失,另一部分光线被反射向下通过物镜至矿物光面上,当由矿物光面向上反射再次遇到玻璃片时,部分光线被反射转向光源而损失,另一部分透过玻璃片至目镜。照明光线由光源入射后经玻璃片两次反射,到达目镜的最大光强为入射光强的21%~22%(设光片的反射率为100%)。由此可知玻璃片反射器的主要缺点是反射能力弱,即入射光损耗大、视野中亮度低。但玻璃片反射器的优点是:光线可以通过物镜的全孔径,故分辨能力较强,视野中亮度均匀,所以观测偏光图时必须用它,而且由于它能获得较为垂直的光线,故反射率测定时也要用这种反射器。此外,显微摄影时用它可拍出亮度均匀的照片。

(2)棱镜反射器 全反射棱镜反射器是以直角三棱镜代替玻璃片(图1-2b)。 入射光线被棱镜全部反射向下,但由于棱镜的大小不超过镜筒内径的一半,必须留出一半空间作为反射光线向上的通路,所以射向目镜的光强最大不超过50%,故视野亮度比用玻璃片反射器时高得多。棱镜反射器有两种,旧型的显微镜多用普通直角三棱镜,其主要缺点是当入射光为直线偏光时,因光束不完全平行(斜射光),则被棱镜反射后会使部分反射光成椭圆偏光,从而影响对光学性质的精确观测。

新型的矿相显微镜都采用三次全反射补偿棱镜(图1-3)。三次全反射棱镜玻璃的折射率必须是

,这样全反射一次所造成的周相差为60°,经三次全反射后总的周相差应当为180°,仍是直线偏光。

图1-3 三次全反射补偿棱镜

图1-4 史密斯反射器

总之,棱镜反射器光线损耗比玻璃片少,因而视野较明亮。同时,有害的杂乱反射光也少。由于入射光是略倾斜地照射在矿物光片上,所以视野中反差比较鲜明,影像显得清晰。但由于它射向目镜的光线不够均匀,故视野中略有半明半暗的现象(若用中、低倍物镜时,此缺陷则不明显)。又因棱镜挡住物镜一半孔径,仅能看到半个偏光图,故不适合观测偏光图用。

(3)史密斯反射器 史密斯(Smith)反射器为二次反射结构,即由反射镜和反射玻璃片两部分组成。其构造如图1-4,入射光经反射镜M反射到镀膜的玻璃片G上,被G再反射垂直向下射入物镜至光片S上。由光源射至反射镜M的光线的入射角α为22.5°,而反射镜至玻璃片上的入射角也是22.5°。反射镜由玻璃片镀铝制成,反射玻璃片的折射率为1.52,在其下表面镀N=2.45的氧化铋(Bi2O3)膜,以增强反射率,其上表面则镀N=1.38的氟化镁(MgF2)膜以减少内反射而增强透射。

该反射器除具有玻璃片反射器的优点外,它由于垂直入射面和平行入射面的偏光的透射和反射光强差别小,所以可大大减少玻璃片的反射和透射旋转。

(二)照明设备

1.光源

矿相显微镜一般常用钨丝白炽灯和卤钨灯作为光源。部分研究用显微镜还配有汞灯、钠灯、铟灯或氙灯。

2.滤光器

用上述光源除必备蓝色玻璃滤光器外,为了一些特殊的用途(如测定矿物的反射率和非均质视旋转角Ar等),则需要单色光源。单色光源主要有单色仪和干涉滤光器两种。除单色仪外,大多采用简易方便的干涉滤光器。由于一般玻璃滤光片的单色性很差,光谱组成复杂,现在已基本上被淘汰;而干涉滤光器的透射光波段范围较窄(半宽度较窄),单色性高,故被广泛采用。

干涉滤光器是两片平行,两个内表面镀有半透明银膜或铝膜的光学玻璃片,中间夹一层厚度约为规定的透射波长之半的透明的电介质而成。入射光线在两个内表面之间多次反射,经干涉后形成单色光透出玻璃。其性能决定于三个常数:①透射光峰值位置;②峰值的透射率及透射带的透射率;③透射带半宽度HW,即峰值高度一半处的透射宽度,半宽度可控制在10 nm左右,它可经过计算,设计各种波长和不同半宽度的滤光器。干涉滤光器的单色性良好、孔径大、进光充足。

由于国际矿物协会所属的矿相学委员会(COM)规定,每一矿物至少需测定470nm、546nm、589nm、650nm等四种波长的反射率,所以这四个波长的滤光器是必备的。

(三)接物镜

接物镜通称物镜,它是由多片形状不一的透镜组成的一个光学放大系统。每个物镜都具有两种最基本的特征,即放大能力和分辨能力。物镜按放大倍数可分为低倍(放大数倍,即十倍以下)镜、中倍镜(放大十至二十倍左右)、高倍镜(放大二十倍以上)。

1.物镜的分辨率

分辨能力是指分辨细微结构的能力,也就是使观察对象细微结构特点表现出来的能力。它常以分辨率l来表示,分辨率是指物镜能分开两个点(或两条平行线)之间的最短距离。例如用某物镜观察时,能够把距离为0.4 μm 的两个点分开,而不能将0.3 μm间距的两点分开,故0.4 μm就是此物镜的分辨率(分辨限度)。

物镜的分辨率除与物镜的各种像差有关外,更主要的是决定于物镜的“数值孔径NA”。而NA=Nsinα,α为物镜前透镜与光片上焦点间之光锥角,即孔角的一半(图1-5)。

图1-5 接物镜的孔角(孔径角)

矿相学

式中:N为物镜和光片间观察介质的折射率;λ 为观察时所用光波的波长。

从上面公式可知,物镜的数值孔径NA越大,分辨率越小,即分辨细微结构能力越强;入射光波的波长越短,分辨率l也越小。因此欲增强物镜分辨能力(使l变小时)主要需使数值孔径NA增大。实际上高倍物镜的最大孔角为144°,即∠α为72°,因此在空气介质条件下,最大数值孔径NA=1×sin72°=0.95。在以油浸(香柏油N=1.515)为介质时,NA=1.515×sin67°=1.40。所以数值孔径最大不超过1.40。在物镜上一般都刻有数值孔径的数值(0.05~1.4)。欲观察极细微的现象时,可选择高数值孔径的油浸物镜。必须指出的是,反光用物镜还存在透镜界面的耀光,这种耀光也影响分辨率,故物镜的分辨率不能只以数值孔径为唯一标准。

还应当指出的是必须把分辨能力与放大倍数分开,二者并不完全成比例关系,也就是说,并非物体放得越大细微结构就愈清晰。因为如果不增大分辨能力,只增大放大倍数,其结果会使影像模糊不清,所以是无用的“空放大”。由此可知,显微镜的性能主要决定于分辨能力或分辨率,而不是以单纯的放大能力为准。

物镜上一般都刻有放大倍数和数值孔径。放大倍数有的用符号“×”表示,如10×即10倍。通常都省去“×”号仅刻上数字;也有不刻放大倍数而刻焦距 f 或 mm,如f 5.2表示焦距为5.2 mm。数值孔径通常用“NA”表示,而在物镜外壳上一般直接刻写数字,如“10/0.20”表示放大10倍,数值孔径0.20。

2.透镜的像差及其校正

单透镜放大成的像,一般是畸形的或带色边的。这种现象是由于透镜有各种像差引起的。任何一个或一组透镜在成像时,由于透镜本身光学条件的缺陷而使物像发生种种异常,这些引起异常的作用统称之为像差。

像差包括有球面像差、纵向色差、横向色差、彗星像差、像散、像场弯曲和畸变等。而以前两种像差表现较为突出。

(1)球面像差 球面像差简称球差。由图1-6可看出自无限远处射来的平行光束通过凸透镜后,不是聚焦于一点(即透镜的焦点),而是聚焦在多个点上。图中所示,三对光线聚成三个焦点,愈近光轴的光线折射愈小,因此焦点就离透镜远一些;而愈近透镜边缘的光线折射愈强烈,所以焦点距透镜就愈近。由于产生这种现象的原因在于透镜表面是球面,故称球面像差。因这种像差的影响,当升降镜筒使中心部分成像清楚时,则边缘部分不清晰,若使边缘清晰时,则中心部分就模糊。其校正方法是用折射率不同的光学玻璃经过计算后,制成正(凸)、负(凹)透镜组合在一起,使两种透镜所形成的球差相反而抵消,以此来改正透镜的球差。但一般改正并不彻底,都还残存一些球差。

图1-6 球面像差

P—屏幕

(2)色像差 色像差也称色差,由于玻璃对不同波长色光有不同的折射率,因此白光通过透镜后不能聚焦于一点,即产生了色差。色差有纵向与横向两种,前者影响较大,纵向色差的产生如图1-7所示。由点状物体射来的白光穿过透镜后,蓝光折射最强,聚焦于a,绿光聚焦于b,红光聚焦于c,因此物体影像必然不清晰。

图1-7 纵向色差

a—蓝光焦点;b—绿光焦点;c—红光焦点

纵向色差会使物体影像产生虹状的彩色边缘,因此必须改正。一般与球差同时改正,即用折射率和平均色散系数不同的玻璃经过计算后,制成正、负透镜组成,就可以同时改正大部分球差和纵向色差。这种组合制成的物镜叫消色差物镜和复消色差物镜。

3.物镜的种类和识别

物镜除按数值孔径和放大倍数分类外,由于用途不同其类型繁多。现仅将矿相显微镜的物镜就其性能与用途简单介绍如下:

(1)按所用的观察介质不同分为干燥(空气、干)物镜与浸没(油、水浸)物镜。干燥物镜观察介质为空气;浸没物镜最常用的是油浸物镜,介质为不易腐蚀镜头的香柏油(N=1.515),其标志是在物镜金属框前端有一色圈(常为黑色)并刻有“Oil”、“Oel”、“imm”或“ПМИ”等字样。油浸物镜因数值孔径NA较干燥物镜大,故分辨能力强,且易于观测矿物的双反射、非均质性和内反射等光学性质。

(2)根据像差校正程度,可将物镜分为消色差物镜、复消色差物镜、半复消色差物镜和平像物镜。消色差物镜是使可见光中的红光与蓝光聚焦于一点,而黄绿光则聚焦于另一点(靠近红蓝光的焦点)。所以基本上校正了上述色光的色差与球差,但对其红蓝光以外的各种色光间色差未予校正,消色差物镜一般不刻有符号。

复消色差物镜基本上能把可见光谱中的各种色光聚焦于一点,同时也校正了球差和其他像差,这种物镜性能好,适用于各种倍数的观察及摄影。但它的构造复杂,是用特殊的光学玻璃或萤石配合光学玻璃制造的。其物镜外壳上刻有“APO”或“Apochromatic”等字样。半复消色差物镜,它的构造与消色差物镜相同,仅其中的冕牌玻璃部分或全部用光学萤石代替。它的色差校正在消色差与复消色差之间。物镜框上刻有“F1”、“Neofluar”或“Fluorite”等字样。

上述的物镜都有像场弯曲,并且倍数越高越严重,以复消色差物镜最为严重。新型显微镜大多数用平像物镜。平像物镜特点是它们所成的影像基本上是平的,像场弯曲很小,不会产生视野中心与边缘不能同时准焦的现象,因此利于观察和显微摄影。其识别标志是在它的金属框上刻有“Planachromate(平像消色差)”、“Planapochromate(平像复消色差)”、“Plan(平像)”、“Pl(广视野平像)”、“Npl(正常视野平像)”和“Epiplan(反射光专用平像)”等字样。

最后必须提及的是,矿相显微镜不能使用有应变的物镜,它特别不适于在正交偏光下观测矿物。无应变物镜标有“POL”或“P”等字样;“(P)”表示基本无应变。还须指出的是,偏反两用显微镜中备有两套物镜(反射光及透射光专用),各有标记,不可混用,尤其高倍物镜更是如此。

(四)接目镜

物镜将微小物体放大,但由于物体太细小,这个实像仍不够大,因此需要在实像与眼睛之间再加一个放大镜将实像进一步放大,把它变成一个放大虚像才便于观察。这个放大镜就是接目镜,也称目镜。按其构造及用途不同可分为下列几种。

1.惠更斯目镜

由两个平凸透镜组成(图1-8a),凸面均朝下,上端眼透镜比下端的场透镜小。目镜之焦点在两透镜之间(焦平面上装有一金属框可置目镜微尺或十字丝),故称为负目镜。惠更斯目镜的优点是可以完全消除本身的横向色差。其放大倍数均较小,最大不超过10×。这种目镜由于对球差和纵向色差不能很好校正,且观察时人眼要紧贴目镜很不方便等缺陷,所以已渐被平像目镜所取代。

图1-8 按目镜的两种普通型式

2.兰姆斯顿目镜

也由两片平凸透镜组成,凸面相对(图1-8b)。目镜的焦点在场透镜之下,故又称正目镜。在它的焦面上安装测微尺等很适宜,因测微尺与物像同样都是通过两个透镜放大的,故基本上没有像差。但这种目镜不能全部消除横向色差,改良的是将眼透镜用两片透镜黏合而成,以消去残存色差,故称开尔纳目镜即无畸变目镜。开尔纳目镜在外壳上刻有“O”、“Orth”、“Opt”等。由于近年来设计出平像补偿目镜,故上述目镜除较旧型显微镜可能附有外,新型显微镜已不采用。

3.补偿目镜

它是专门与复消色差物镜配合使用的目镜,因为复消色差物镜形成的蓝像比红像大,而补偿目镜设计红像比蓝像大,故抵消了复消色差物镜的横向色差。补偿目镜也可以与萤石物镜及高倍消色差物镜配合使用。然而一般的低、中倍消色差物镜配补偿目镜会使物像产生色边。此外,这种目镜最大的缺点是像场弯曲严重。

补偿目镜倍数由5×至30×。其外壳上常刻有“C”、“K”、及“Compens”等字样。

目前新型偏光显微镜或矿相显微镜只使用平像目镜,上述几种目镜均被淘汰。

4.平像目镜

它也是一种补偿目镜,但已消除了像场弯曲。这种目镜仅校正了本身的像场弯曲,但不能校正物镜的像场弯曲。只有与平像物镜配合使用才能获得完全平坦的像场。平像目镜放大倍数由8×至25×;外壳上常刻有“Plan”、“Planosc-opic”、“Periplan”、“Kpl”、“GW”或“GF”等字样。

二、几种常见矿相显微镜简介

矿相显微镜是矿相学研究时最基本、最重要的仪器。因此必须学会熟练地使用,并对其每一附件的名称和性能均应完全掌握。现将两种常见、常用的矿相显微镜简介如下(图1-9)。

1.OLYMPUS BX51M(BX60M)反光显微镜

为日本产最新型矿相显微镜。垂直照明器与镜体相连接,备有前、上偏光镜,上偏光镜可转一周,刻度标明180,上偏光镜振动方向可转变180°。变压器装在镜架内,旋钮在右手,很方便。另外,当调节光线的强度时,镜架上有12挡指示灯。镜架呈Y形,使显微镜稳定性好。该显微镜优点是视域大,无畸变,物像清晰,正交偏光下光强,适于观察内反射和偏光色、均质和非均质性,还可测Ar角,精度达0.1°。

图1-9 矿相显微镜

2.ORTHOLUXⅡPOL-BK型显微镜

该显微镜也为偏反两用镜,是莱茨厂的产品。也备有上、下、前偏光镜,上偏光镜可旋转360°,刻度值精确至0.1°。垂直照明器与镜体连接;有玻璃片和棱镜反射器各一,可选用。照明灯为一可装卸在镜体上的灯室,内有12 V、50 W~100 W的溴钨灯。该显微镜性能良好,可作某些光学常数的测量。

3.LABORLUX 12 POL型显微镜

它也是偏、反两用显微镜,是莱茨厂的一种改型新产品。垂直照明器中基本部件齐全,并与镜体和照明灯相连接;照明灯为一可装卸在镜体上的灯室,内有6 V、20 W的溴钨灯。变压器置于镜体内,便于调节照明亮度。此种类型显微镜性能良好,适于实验工作和学生使用。

三、矿相显微镜的调节、使用和维护

1.矿相显微镜的调节

不论显微镜的性能如何,在使用前必须加以调节,使其各部件处于正确的位置,才能进行有效的观测。矿相显微镜结构较为复杂,在安装使用时,很多部分需要仔细地检查和调节。通常需要调节的部分简述如下:

(1)调节光源 目前新型显微镜的灯多是安装在镜体上,如安装在垂直照明器的前端或灯室中,调整方法是转动灯室或灯头的螺旋,使光源点与进光管在同一水平线上,直至视野中亮度均匀、亮度最大为止。

(2)反射器的调节 缩小视野光圈后转动反射器的横轴,其小圆亮点应严格平行目镜十字丝的竖丝移动,然后使小亮点位于视域正中心,并被十字丝所平分,即表示反射器的位置及倾角(45°)已调正。需要指出的是一些新型的显微镜中,反射器固定在横轴上(处于正确位置),不能自行调整。

(3)调节孔径光栏和视野光栏 实践证明,由于耀光的影响,不适当地开大孔径光栏,并不能有效地提高反光物镜的分辨能力。孔径光栏的适宜大小(取下目镜或推入勃氏镜即可在物镜后界面上看到孔径光栏的像),应随物镜的放大倍数而异。用低倍物镜时,孔径瞳孔可开至与孔边基本重合;用中、高倍镜时应适当缩小(1/3至1/2)。

视野光栏的调节是首先缩小光圈并调至十字丝中心,若光圈界线模糊不清或带有红、蓝等颜色,转动视野透镜至视野界线清晰和无色边为止。重新开大光栏至视域周边,不可再大。

(4)偏光镜振动方向的检验与校正 检验偏光镜振动方向通常是置石墨或辉钼矿非底切面的光片于物台上,推出上偏光镜,转动物台,使矿物晶体的延长方向(高反射率方向)处于最亮位置时,其延长方向即为前偏光镜振动方向。如果此时矿物的延长方向恰平行十字丝呈东西向,则证明前偏光镜也为东西向。若非如此,需先使矿物延长方向平行十字丝东西向后,再转动前偏光镜至矿物最亮时,此时前偏光镜即处于东西向。

检查两个偏光镜是否严格正交的方法是,先用上述方法确定前偏光位置,再推入上偏光镜,若上述矿物呈最暗(消光),并在物台旋转一周时,出现四次消光,两次之间距严格为90°,同时在各45°方位的偏光色也应完全一致。或者用一均质矿物如黄铁矿在高倍无应变物镜下作锥光观察,若偏光图为一完美的“黑十字”,即可证明二偏光已经正交。上述两种检查方法中,若前者四次消光间距不等,后者图像稍显双曲线状,则都表明两偏光未完全正交。须仔细地调节上偏光镜,以达到前述要求,并记录前、上偏光镜所处刻度位置,便于备查。

关于物镜中心等校正与偏光显微镜相同,不再赘述。

2.矿相显微镜使用的一般程序

(1)安装垂直照明器 有的垂直照明器已固定在镜筒上,只需调整照明。 可装卸的垂直照明器需安装在镜筒既定的位置上。

(2)安装物镜和目镜 因显微镜的型号不同,故物镜的装法也各异。 如有的显微镜,要顺着接头沟槽横插,也有的显微镜的物镜是拧上弹簧夹安装的;现在多是以物镜螺纹拧在镜筒的物镜接头器上或旋转盘上的。

(3)开启照明灯 按动照明器开关即可,注意调节到合适的亮度。

(4)安装光片于载物台上 以适量的胶泥先用压平器将光片压平在载物片上,然后置于显微镜的载物台上,再调动镜筒或升降物台使之准焦。

3.显微镜的维护

(1)任何部、附件的螺旋不应乱搬硬拧,应仔细找出原因(如方向拧错、卡住或已旋到极限等)后妥善处理。

(2)显微镜的部件(如物镜与目镜等)不能混用,不论同型号或不同型号的显微镜都不能混用。

(3)显微镜保存温度要适宜,一般应在-4℃~+20℃之间,不要过冷或过热,以免脱胶和润滑油变质失效。特别注意避免曝晒或取暖设备烘烤。

(4)偏光镜(尤其是以冰洲石作的偏光镜)须轻推轻拉;镜头装卸也要轻上轻下,以免因振动应变,脱胶损坏。

(5)灰尘对显微镜的影响很大,其光学系统需保持严格清洁,但物镜绝不可拆卸。所有透镜及偏光镜都不可用手指或一般纸及织物擦拭,只能用擦镜纸或脱脂棉轻轻擦拭物镜、目镜透镜的外表面。

(6)低压白炽灯泡的插头一定要插在变压器上,绝不可直接插在电源上,以防烧毁灯泡。灯泡及变压器不可连续通电时间过长,在空隙时间应随手关闭。另外,若变压器发出嗡嗡声,须立即将变压器插销从电源上拔下检查。

实验作业

(1)每人固定使用某一台显微镜。阅读“反光显微镜使用规程”。

(2)重点掌握垂直照明器的结构和工作原理,熟悉物镜、目镜的种类及使用前偏光镜和上偏光镜的方法,了解、熟悉孔径光栏和视野光栏的用途及使用方法。

(3)以方铅矿(白色)为标准,用蓝玻璃片调节灯光的颜色,使其成为纯白色。注意调整光源的角度、位置并排除障碍,使光强达到应有的亮度。

(4)参观了解其他类型的反光显微镜。

【物相和矿的定义,物相和矿相的具体区别?怎么描述?】

物相

对物质中各组成成分的存在的状态、形态、价态进行确定的分析方法。   利用物理原理的方法有比重法、磁选法、X射线结构分析法等。或利用不同溶剂,将物质及其组分的各种不同的相进行选择性分离,然后再用物理或化学分析方法,确定其组成或结构。此外,还有价态分析[1]。结晶基本成分分析和晶态结构分析等均属物相分析。   物相分析主要用于金属与合金,岩石、矿物及其加工产物等领域。

编辑本段概念

物质中各组分存在形态的分析方法。广义上应包括金属和合金相分析,金属中非金属夹杂物分析和岩石、矿物及其加工产物各组成的状态分析。物相分析的项目应包括价态、结晶基本成分和晶态结构的分析。

分析方法有

①物理方法,如磁选分析法、比重法、X射线结构分析法、红外光谱法、光声光谱法;②化学方法,选择不同溶剂使各种相达到选择性分离的目的,再用化学或物理方法确定其组成或结构。由于自然界矿物的成分极为复杂,因此在用溶剂处理的过程中,某些物理、化学性质的改变(如晶体的破裂、结晶水和挥发物的损失、价态的变化、结构的变异,以及部分溶解、氧化、还原)都会影响分析结果的可靠性。

矿相

矿相矿相学一词,原文为mineragraphy,是由万德芬(R。W.Vande Vean)于1925年提出的,后来由施耐德洪(H.Schneidehehn_规定其研究范围诶金属矿物呵矿石。相爱你在矿相学一词,国际上通写Ore microscope。   矿相学早年于岩相学大致相当。早年的岩相学包括非金属矿物呵岩相学两部分,后来分别独立为光性矿物学呵岩石学。   用矿相显微镜研究金属矿石的一门学科。它的研究方法在许多方面与研究合金的金相学相似,实际上是从金相学引入到地质科学中的。

矿相学的研究内容主要包括:①在矿相显微镜下观测不透明金属矿物的光性、物性和化学性质等,以鉴定金属矿物;②研究矿石的组构特征、矿物组合和它们在时间上发育和空间上分布的规律,为研究矿床成因、进行找矿勘探提供依据;③研究和选择矿石合理的技术加工方案,查明矿石中有益和有害组分的赋存状态、矿物的嵌布特征等。因此,矿相学的研究领域包括有金属矿物学和矿石学的若干内容。

总之矿相研究的是怎样寻找矿脉,物相研究的是物质的结构特性。

矿相是先期研究,物相是后期处理。

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